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变频抗干扰介质损耗测试仪工作原理

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变频抗干扰介质损耗测试仪工作原理:
仪器测量线路包括一路标准回路和一路被测回路,如图3所示。标准回路由内置高稳定度的标准电容器与采样电路组成,被试回路由被试品和采样电路组成。由单片机运用计算机数字化实时采集方法,对数以万计的采样数据处理后进行矢量运算,分别测得标准回路电流与被试回路电流幅值及其相位关系,并由之算出试品的电容值(Cx)和介质损耗角正切(tgδ),测量结果可靠。现场有干扰时,先利用移相、倒相法减小干扰的影响,再将被试回路测得的电流Ix’与单独测得的干扰电流Id矢量相加,得到真正的测量电流Ix,进而得出正确的测量结果。可根据不同的测量对象和测量需要,灵活地采用多种接线方式。如测量非接地试品(正接法)时,“Lv”(E)点接地;而测量接地试品(反接法)时,则“Hv”点接地。

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